Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Для приобретения подписки для абонементного доступа к статьям, вам необходимо зарегистрироваться
После регистрации вы получите доступ к личному кабинету
Зарегистрироваться Войти
Предлагается связать представление истинного значения измеряемой величины с возможностью построения адекватной модели объекта измерений. Этим дискуссия о правомерности использования аксиомы о существовании истинного значения трансформируется в обсуждение признаков адекватности модели объекта с использованием измеряемой величины. Указывается на возможность использования для этой цели характеристик эталонных средств и так называемых гипотетических процедур измерений. Приводятся иллюстративные примеры.
Ключевые слова: математическая метрология; измеряемая величина; модель объекта измерений; эталон; характеристики эталона; гипотетическая процедура измерений; погрешность
Автор: Э.И. Цветков, Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет, Санкт-Петербург
Мир измерений № 07/2014