Заказать мероприятие
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Для приобретения подписки для абонементного доступа к статьям, вам необходимо зарегистрироваться
После регистрации вы получите доступ к личному кабинету
Зарегистрироваться Войти
Рассмотрены методы определения значения фрактальной размерности поверхностного слоя. Предложена установка для оценки фрактальной размерности поверхности. Установка основана на совместном применении модернизированного микроинтерферометра МИИ-4 и компьютерной программы Nova. Представлены результаты исследования точности заложенного в программе Nova алгоритма фрактальной обработки данных. Приведены направления дальнейшей модернизации установки.
Ключевые слова: качество поверхности; фрактальный анализ; средства измерений; микроинтерферометр МИИ-4
Автор:
О.Б. Бавыкин,
Университет машиностроения, Москва
Подписка
Всероссийская организация качества
