Заказать мероприятие
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Для приобретения подписки для абонементного доступа к статьям, вам необходимо зарегистрироваться
После регистрации вы получите доступ к личному кабинету
Зарегистрироваться Войти
Проведено сравнение возможностей использования дифракции обратно отраженных электронов и метода рентгеновской дифрактометрии для анализа текстуры прокатки технически чистой меди. Проанализированы преимущества и недостатки каждого метода.
Ключевые слова: дифракция обратно рассеянных электронов; функция распределения ориентаций; прямые и обратные полюсные фигуры
Авторы:
Т.А. Свиридова, М.В. Васильева, М.В. Горшенков, Н.П. Дьяконова, С.В. Скородумов, Е.В. Шелехов,
НИТУ “МИСиС”, Москва
Подписка
Всероссийская организация качества
