Заказать мероприятие
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Для приобретения подписки для абонементного доступа к статьям, вам необходимо зарегистрироваться
После регистрации вы получите доступ к личному кабинету
Зарегистрироваться Войти
Читайте и узнаете:
о различных способах применения дисперсионного анализа систем измерения; об особенностях подхода Д. Уилера к оценке систем измерения (EMP III) и его преимущества по сравнению с остальными; критерии выбора методики анализа или оценки системы измерения в зависимости от цели их проведения.
Ключевые слова: анализ систем измерения (MSA), дисперсионный анализ (ANOVA), контрольные карты Шухарта в метрологии
Авторы:
В.Ю. Смелов, зам. генерального директора по качеству ООО НПП «РАДИКО», старший преподаватель кафедры «СиАК» НИТУ «МИСиС»
Е.С. Громова, магистр НИТУ «МИСиС»
Д.В. Аплетнев, главный метролог АО «ММЗ»
В.Л. Шпер, канд. техн. наук
«Контроль качества продукции» № 04/2022
Подписка
Всероссийская организация качества
